Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
 
 
  An empirical fringing capacitance dependent threshold voltage model for non-uniformly doped submicron MOSFETs
 
 
Titel: An empirical fringing capacitance dependent threshold voltage model for non-uniformly doped submicron MOSFETs
Auteur: Maneesha,
Khanna, M.K.
Hadlar, S.
Gupta, R.S.
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 39 (1996) nr. 11 pagina's 5 p.
Jaar: 1996
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland