|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
A new contactless S-polarized reflectance technique for determining the Si film and buried oxide thickness in silicon-on-insulator materials |
| Auteur: |
Chang, Yun-Shan Li, Sheng S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 38 (1995) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |