|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of leakage current behaviour of Schottky gates on InAlAs/InGaAs/InP HFET structures by a 1D model |
| Auteur: |
Ellrodt, P Brockerhoff, W Tegude, F.J |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 38 (1995) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |