|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel technique for the simultaneous measurement of ambipolar carrier lifetime and diffusion coefficient in silicon |
| Auteur: |
Rosling, Mats Bleichner, Henry Lundqvist, Måns Nordlander, Edvard |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 35 (1992) nr. 9 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |