|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Back gatebias effects on the pull-down transient behavior in an ultra-thin SOI CMOS inverter operating at 300 K and 77 K |
| Auteur: |
Kuo, J.B. Lee, W.C. Sim, J.H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 35 (1992) nr. 10 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |