|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A technique to measure the dynamic response of a-Si:H thin film transistor circuits |
| Auteur: |
Bashir, Rashid Neudeck, Gerold W. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 33 (1990) nr. 7 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |