|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
On the electrical properties, the interfacial reactivity and the thermal stability of CoSi2/-, TiSi2/-, Co/- and Ti/p-InP Schottky barriers |
| Auteur: |
Van den Berghe, L.M.O. Van Meirhaeghe, R.L. Laflère, W.H. Cardon, F. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 33 (1990) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |