|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep-level impurity analysis for p-n junctions of a bipolar transistor from low-frequency g-r noise measurements |
| Auteur: |
Dai, Yisong |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 (1989) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1989 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |