|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
SILO isolation technique: A study of active and parasitic device characteristics with semi-recessed and fully-recessed field oxides |
| Auteur: |
Coppee, J.-L. Van de Wiele, F. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 31 (1988) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |