|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of MOSFET degradation due to hot-electron stress in terms of interface-state and fixed-charge generation |
| Auteur: |
Shabde, Sunil Bhattacharyya, Anjan Kao, Ron S. Muller, Richard S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 31 (1988) nr. 11 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |