|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Reverse bias voltage decay and measurement of the dark current in semiconductor radiation detectors |
| Auteur: |
Totterdell, D.H.J. Jain, S.C. Leake, J.W. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (1987) nr. 4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |