|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Low frequency noise measurements as a tool to analyze deep-level impurities in semiconductor devices |
| Auteur: |
van Rheenen, A.D. Bosman, G. Zijlstra, R.J.J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (1987) nr. 3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |