|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron surface trapping effects on the switching voltage of metal-insulator (tunnel)-Si(n)-Si(p +) devices |
| Auteur: |
Phan, H.K. Phu, L.H. Binh, P.H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 29 (1986) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |