|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Diffusion length and surface recombination velocity measurements with the scanning electron microscope: The highly-doped emitter of a p-n junction |
| Auteur: |
Burk, D.E. Sundaresan, R. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 27 (1984) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1984 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |