|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of Al-SiO2-Si (N-type) tunnel structures. Influence of LPCVD and LPO2 oxide growth technologies on the properties of the Si-SiO2 interface |
| Auteur: |
Pananakakis, G. Kamarinos, G. El-Sayed, M. Le Goascoz, V. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 26 (1983) nr. 5 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |