|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
A re-examination of practical performance limits of scaled n-channel and ϱ-channel MOS devices for VLSI |
| Auteur: |
Shichijo, Hisashi |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 26 (1983) nr. 10 pagina's 18 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |