|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation mechanism for silicon p +-n junctions under forward bias |
| Auteur: |
Hamaker, R.W. Putney, Z.C. Ayers, R.L. Smith, P.H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 24 (1981) nr. 11 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1981 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |