|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of channel noise and threshold voltage in sos-MOS transistors in the temperature range of 77–300 K |
| Auteur: |
Touboul, A. Sodini, D. Rigaud, D. Lecoy, G. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 23 (1980) nr. 4 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |