|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
The determination of transport parameters of minority carriers in n–p junctions by means of an electron microscope. Critique of recent developments |
| Auteur: |
von Roos, Oldwig |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 23 (1980) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |