|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Admittance spectroscopy: A powerful characterization technique for semiconductor crystals—Application to ZnTe |
| Auteur: |
Pautrat, J.L. Katircioglu, B. Magnea, N. Bensahel, D. Pfister, J.C. Revoil, L. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 23 (1980) nr. 11 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |