|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel method to determine bias-dependent source and drain parasitic series resistances in AlGaN/GaN high electron mobility transistors |
| Auteur: |
Jiang, Guangyuan Fu, Chen Liu, Yang Yang, Guang Cui, Peng Zhang, Guangyuan Lv, Yuanjie Lin, Zhaojun |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 220 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |