Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 11 van 25 gevonden artikelen
 
 
  Bridge-contact resistance method for precise evaluation of electrical contacts of nano-scale semiconductor devices
 
 
Titel: Bridge-contact resistance method for precise evaluation of electrical contacts of nano-scale semiconductor devices
Auteur: Yun, Jiyeong
Park, Byeong-Gyu
Jung, Huiyun
Lee, Jonghyung
Park, Youngjin
Kang, Geeyoon
Park, Honghwi
Park, Hongsik
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 216 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 11 van 25 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland