|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Unveiling the reliability of negative capacitance FinFET with confrontation of different HfO2-ferroelectric dopants |
| Auteur: |
Kumar Jaisawal, Rajeewa Rathore, Sunil Kondekar, P.N. Bagga, Navjeet |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 215 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |