|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Voltage ramp stress based lifetime-prediction model of advanced Al-doped HfO 2 dielectric for 2.5D MIMCAPs |
| Auteur: |
Fohn, Corinna Chery, Emmanuel Croes, Kristof Stucchi, Michele Afanas’ev, Valeri |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 213 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |