|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistical modeling of degradation behavior in Split-Gate Non-Volatile memory devices |
| Auteur: |
Mei, S. Luo, L. Shubhakar, K. Raghavan, N. Pey, K.L. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 211 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |