|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
The energy levels and the defect signature of sulfur-implanted silicon by thermally stimulated measurements |
| Auteur: |
Koyama, R.Y. Phillips, W.E. Myers, D.R. Liu, Y.M. Dietrich, H.B. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 21 (1978) nr. 7 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1978 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |