|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of high-temperature H2-anneals on the slow-trapping instability of MOS structures |
| Auteur: |
Sinha, A.K. Levinstein, H.J. Adda, L.P. Fuls, E.N. Povilonis, E.I. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 21 (1978) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1978 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |