|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Evidence of Transport Degradation in 22 nm FD-SOI Charge Trapping Transistors for Neural Network Applications |
| Auteur: |
Al Mamun, Fahad Vrudhula, Sarma Vasileska, Dragica Barnaby, Hugh Sanchez Esqueda, Ivan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 209 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |