|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of SOI pMOS device leakage |
| Auteur: |
Bosch, D. Lheritier, P. Guyader, F. Joblot, S. Ponthenier, F. Lacord, J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 208 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |