|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of trap distribution and NBTI degradation in Al2O3/SiO2 dielectric stack |
| Auteur: |
Yan, Yiyi Kilchytska, Valeriya Flandre, Denis Raskin, Jean-Pierre |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 207 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |