|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Role of interface/border traps on the threshold voltage instability of SiC power transistors |
| Auteur: |
Volosov, V. Cascino, S. Saggio, M. Imbruglia, A. Di Giovanni, F. Fiegna, C. Sangiorgi, E. Tallarico, A.N. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 207 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |