Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 24 van 30 gevonden artikelen
 
 
  Reliability characterization of non-hysteretic charge amplification in MFIM device
 
 
Titel: Reliability characterization of non-hysteretic charge amplification in MFIM device
Auteur: Engl, Moritz
Mikolajick, Thomas
Slesazeck, Stefan
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 207 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2023
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 24 van 30 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland