|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigating the correlation between interface and dielectric trap densities in aged p-MOSFETs using current-voltage, charge pumping, and 1/f noise characterization techniques |
| Auteur: |
Asanovski, Ruben Franco, Jacopo Palestri, Pierpaolo Kaczer, Ben Selmi, Luca |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 207 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |