|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessment of the variability of the I-V characteristic of HfO2-based resistive switching devices and its simulation using the quasi-static memdiode model |
| Auteur: |
Salvador, E. Gonzalez, M.B. Campabadal, F. Martin-Martinez, J. Rodriguez, R. Miranda, E. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 206 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |