|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
3D-TCAD benchmark of two-gate dual-doped Reconfigurable FETs on FDSOI28 technology |
| Auteur: |
Navarro, C. Donetti, L. Padilla, J.L. Medina-Bailon, C. Galdon, J.C. Marquez, C. Sampedro, C. Gamiz, F. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 200 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |