|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Detection of deep-level (0.63 eV) radiative defects during degradation in GaAs0.6P0.4 light-emitting diodes |
| Auteur: |
Metz, S. Fritz, W. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 20 (1977) nr. 7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1977 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pergamon Press Ltd. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |