|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of interface charge inhomogeneities on the measurement of surface state densities in SiSiO2 interfaces by means of the MOS a.c. conductance technique |
| Auteur: |
Muls, Paul A. Declerck, Gilbert J. van Overstraeten, Roger J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 20 (1977) nr. 11 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1977 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |