|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation-based study on characteristics of dual vertical transfer gates in sub-micron pixels for CMOS image sensors |
| Auteur: |
Lee, Wook Ko, Seonghoon Kim, Jae Ho Kim, Yoon-Suk Kwon, Uihui Kim, HyunChul Kim, Dae Sin |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 198 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |