Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 28 gevonden artikelen
 
 
  Detailed electrical characterization of 200 mm CMOS compatible GaN/Si HEMTs down to deep cryogenic temperatures
 
 
Titel: Detailed electrical characterization of 200 mm CMOS compatible GaN/Si HEMTs down to deep cryogenic temperatures
Auteur: Kim, Donghyun
Theodorou, C.
Chanuel, A.
Gobil, Y.
Charles, M.
Morvan, E.
Woo Lee, Jae
Mouis, M.
Ghibaudo, G.
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 197 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 28 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland