|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Characteristics of noise degradation and recovery in gamma-irradiated SOI nMOSFET with in-situ thermal annealing |
| Auteur: |
Amor, S. Kilchytska, V. Tounsi, F. André, N. Machhout, M. Francis, L.A. Flandre, D. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 194 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |