|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness-dependent dielectric breakdown in thick amorphous SiO2 capacitors |
| Auteur: |
Giuliano, Federico Reggiani, Susanna Gnani, Elena Gnudi, Antonio Rossetti, Mattia Depetro, Riccardo |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 194 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |