|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of OFF-State, HCI and BTI degradation in FDSOI Ω-gate NW-FETs |
| Auteur: |
Valdivieso, C. Crespo-Yepes, A. Miranda, R. Bernal, D. Martin-Martinez, J. Rodriguez, R. Nafria, M. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 194 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |