|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Back-gate effects on DC performance and carrier transport in 22 nm FDSOI technology down to cryogenic temperatures |
| Auteur: |
Han, Hung-Chi Jazaeri, Farzan D’Amico, Antonio Zhao, Zhixing Lehmann, Steffen Kretzschmar, Claudia Charbon, Edoardo Enz, Christian |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 193 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |