|
CMOS inverter performance degradation and its correlation with BTI, HCI and OFF state MOSFETs aging |
|
|
|
Titel: |
CMOS inverter performance degradation and its correlation with BTI, HCI and OFF state MOSFETs aging |
Auteur: |
Crespo-Yepes, A. Nasarre, C. Garsot, N. Martin-Martinez, J. Rodriguez, R. Barajas, E. Aragones, X. Mateo, D. Nafria, M. |
Verschenen in: |
Solid-state electronics |
Paginering: |
Jaargang 191 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2022 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|