|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A method for investigation of fluctuations in doping concentration and minority-carrier diffusion length in semiconductors by scanning electron microscope |
| Auteur: |
Kamm, J.D. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (1976) nr. 11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1976 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |