|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Unified RTN and BTI statistical compact modeling from a defect-centric perspective |
| Auteur: |
Pedreira, G. Martin-Martinez, J. Saraza-Canflanca, P. Castro-Lopez, R. Rodriguez, R. Roca, E. Fernandez, F.V. Nafria, M. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 185 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 35 gevonden artikelen
| << vorige |