|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
In-depth analysis of electrical characteristics for polycrystalline silicon vertical thin film transistors |
| Auteur: |
Zhang, Peng Jacques, Emmanuel Rogel, Régis Pichon, Laurent Bonnaud, Olivier |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 178 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |