|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of metamorphic InAs layers grown on GaAs and Si for mid-infrared photodetectors |
| Auteur: |
Ryu, Geunhwan Kang, Soo Seok Han, Jae-Hoon Chu, Rafael Jumar Jung, Daehwan Choi, Won Jun |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 176 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |