Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
 
 
  Advanced temperature dependent statistical analysis of forming voltage distributions for three different HfO2-based RRAM technologies
 
 
Titel: Advanced temperature dependent statistical analysis of forming voltage distributions for three different HfO2-based RRAM technologies
Auteur: Pérez, Eduardo
Maldonado, David
Acal, Christian
Ruiz-Castro, Juan Eloy
Aguilera, Ana María
Jiménez-Molinos, Francisco
Roldán, Juan Bautista
Wenger, Christian
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 176 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2021
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland