|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Drift of the sensitive direction of Hall-effect devices in (100)-silicon caused by mechanical shear stress |
| Auteur: |
Ausserlechner, Udo Holliber, Michael Kollmitzer, Benjamin Heinz, Richard |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 174 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |